Vortrag Technikgeschichte: Geräteentwicklung zur Defektkontrolle

25
Okt 2016
Dienstag

Es spricht Manfred Heinze (HSEB Dresden GmbH) zum Thema:

„Geräteentwicklung zur Defektkontrolle von Mikrostrukturen auf Fotoschablonen und Halbleiter-Wafern von 1978 bis heute beim VEB CZ Jena und der HSEB Dresden GmbH“

Ort: Universitätshauptgebäude, Fürstengraben 1, Hörsaal 235

Veranstalter: Verein für Technikgeschichte

einladung-vortrag-25-10-16